China Niwwel Handy & Digital Produkt Lithium Batterie Pack Test System Fabrikant beschwéiert a Fournisseur |Niwwel

Niwwel Handy & Digital Produit Lithium Batterie Pack Test System

Dëse System ass gëeegent fir d'fundamental Eegeschafte vun ofgeschloss oder semi-fäerdeg Produkter an der Produktioun Linn vun Handyen an digital Produiten Lithium Batterien ze bewäerten, virun allem fir d'fundamental Eegeschafte vun Schutz IC Test an d'Entwécklung vun engem Package integréiert Test System (Ënnerstëtzung) I2C, SMBus, HDQ Kommunikatiounsprotokoller).

KONTAKT ELO

EEGESCHAFTEN

Beschreiwung

Et ass de Pack ëmfaassend Testsystem applizéiert fir d'Basis- a Schutzeigenschaften Tester vun Endprodukter / Halleffäerdeg Produkter um Handy an digitale Produkt Li-Ion Batterie Pack Produktiounslinnen an de Schutz ICs (ënnerstëtzen I2C, SMBus, HDQ Kommunikatiounsprotokoller ).

Den Testsystem besteet haaptsächlech aus Basisleistungstest a Schutzleistungstest.De Basisleistungstest enthält Open-Circuit Spannungstest, Laaschtspannungstest, dynamesche Laaschtest, Batterie intern Resistenztest, thermesch Resistenztest, ID Resistenztest, normale Ladespannungstest, normaler Entladungsspannungstest, Kapazitéitstest, Leckstroumtest;de Schutz Leeschtung Test ëmfaasst charge iwwer-Stroum Schutz Test: charge iwwer-stroum Schutz Funktioun, Retard Zäit Schutz an Erhuelung Funktioun Tester;Offlossquantitéit Iwwerstroum Schutz Test: Offlossquantitéit Iwwerstroum Schutz Funktioun, Verzögerung Zäit Schutz an Erhuelung Funktioun Tester;Kuerzschlussschutztest.

Den Testsystem genéisst déi folgend Features: Onofhängeg Single-Channel modulare Design an Datebericht Funktioun, déi net nëmmen d'Testgeschwindegkeet vun all PACK verbesseren kann, awer och einfach ze pflegen;beim Testen vun de Schutzzoustande vun engem PACK, muss den Tester an den entspriechende Systemzoustand gewiesselt ginn.Amplaz e Relais ze benotzen, adoptéiert den Tester den MOS-kontaktlosen Schalter mat héijer Kraaftverbrauch fir d'Zouverlässegkeet vum Tester ze verbesseren.An d'Testdaten kënnen op de Server-Säit eropgeluede ginn, wat einfach ze kontrolléieren ass, héich Sécherheet an net einfach ze verléieren.Den Testsystem liwwert net nëmmen d'Testresultater vum "Lokale Datebank" Späichertestsystem, awer och de "Server Fernspeicherung" Modus.All Testresultater an der Datebank kënnen exportéiert ginn, wat einfach ze handhaben ass.D'"Daten statistesch Funktioun" vun Testresultater kënne benotzt ginn fir den "net performanten Taux vun all Testprojet" an "Test Brutto" vun all PCM Fall ze analyséieren.

Eegeschaften

Modular Design: Onofhängeg Single-Channel modulare Design fir einfach Ënnerhalt	Héich Genauegkeet: Déi héchst Genauegkeet vum Spannungsausgang ± (0.01RD + 0.01% FS)
Rapid Test: mat der schnellsten Testgeschwindegkeet vun 1,5s sinn d'Produktiounszyklen wesentlech beschleunegt	Héich Zouverlässegkeet: Héich Kraaftverbrauch MOS kontaktlos Schalter fir d'Zouverlässegkeet vum Tester ze verbesseren
Kompakt Gréisst: kleng genuch an einfach ze droen	---

Spezifikatioune

Modell	BAT-NEPDQ-01B-V016
Parameter	Range	Genauegkeet
Ladespannungsausgang	0,1 ~ 5V	±(0.01%RD +0.01%FS)
Ladespannungsausgang	5 ~ 10V	±(0.01%RD+0.02%FS)
Ladespannungsmessung	0,1 ~ 5V	±(0.01%6R.D. +0.01%FS)
Ladespannungsmessung	5 ~ 10V	±(0.01%RD +0.01%FS)
Ladestroumausgang	0,1 ~ 2A	±(0,01%RD+0,5mA)
Ladestroumausgang	2-20 A	±(0.01%RD+0.02%FS)
Ladestroummessung	0,1 ~ 2A	±(0,01% RD+0,5mA)
Ladestroummessung	2-20 A	±(0,02% RD+0,5mA)
PACK Spannungsmessung	0,1 ~ 10V	±(0,02% RD +0,5mV)
Entladungsspannungsausgang	0,1 ~ 5V	±(0.01%RD +0.01%FS)
Entladungsspannungsausgang	0,1 ~ 10V	±(0.01%RD+0.02%FS)
Entladungsspannungsmessung	0,1 ~ 5V	±(0.01%RD +0.01%FS)
Entladungsspannungsmessung	0,1-10V	±(0.01%RD +0.01%FS)
Entladungsstroumausgang	0,1 ~ 2A	±(0,01% RD+0,5mA)
Entladungsstroumausgang	2-30 A	±(0,02% RD+0,02%FS)
Entladungsstroummessung	0,1~-2A	±(0,01% RD+0,5mA)
Entladungsstroummessung	2-30 A	±(0,02% RD+0,5mA)
Leckstrommessung	0,1-20 uA	±(0,01% RD+0,1uA)
Leckstrommessung	20-1000 uA	±(0.01%RD +0.05%FS)